产品目录
UV757CRT紫外可见分光光度计主要特点
采用微机测量系统,T-A转换,自动调整“0”和调整“100”,具有GOTOλ,时间扫描,自动8联样品架,自动扣除比色皿误差,浓度多点标定,斜率和载距设置等动能,具有RS232借口和并行打印机口(打印机,另行选配)。
联机功能:通过RS-232串行接口,可利用上层软件作全波长扫描,时间扫描,浓度回归方程(1次、2次、3次),多波长测试,并大大扩展测试功能(除主机功能外)。
UV757CRT紫外可见分光光度计产品参数
波长: 范围:200nm-1000nm
度:±0.5nm
重复性:≤0.2nm
光谱带宽:2nm
透射比: 度:±0.5% τ
重复性:≤0.2% τ
范围:0.0%τ-200.0%τ
杂散光: ≤0.3%τ(在220nm和340nm处)
吸光度: -0.301%τ-4.000A
稳定性: ≤0.004A/30min
功率和电源:50Hz±1Hz/AC220V±22V
上一篇:UV757紫外可见分光光度计
下一篇:红外分光光度计
扫一扫 微信咨询
©2024 上海天普分析仪器有限公司 版权所有 备案号:沪ICP备19040958号-1 技术支持:化工仪器网 Sitemap.xml 总访问量:178047 管理登陆